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新聞詳情
有關于一維測高儀的使用特點
日期：2025-11-03 06:03
瀏覽次數(shù)：2100
摘要：
一維測高儀的重點用于優(yōu)點：
1.適合現(xiàn)場及質(zhì)檢室的量檢及抽檢
2.本身具有線形補正，可依現(xiàn)場條件做精度補正，以提高**度，避免條件差別。
3.可提供多種量測，解決一般工具無法量測的問題。
一維測高儀的重點用于參數(shù)表格如下：
1.適合現(xiàn)場及質(zhì)檢室的量檢及抽檢
2.本身具有線形補正，可依現(xiàn)場條件做精度補正，以提高**度，避免條件差別。
3.可提供多種量測，解決一般工具無法量測的問題。
一維測高儀的重點用于參數(shù)表格如下：
|
型 號 |
V304+/V304C+/V305/V304C |
V604+/V604C+ |
V1004C |
|
量測范圍 |
0-300mm |
0-600mm |
0-1000mm |
|
分辨率 |
0.01/0.001mm |
0.01/0.001mm |
0.01/0.001mm |
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*大可以差別 |
2.5+(L(mm)/400)μm |
2.5+(L(mm)/400)μm |
2.5+(L(mm)/400)μm |
|
重復性 |
1μm(+/-2S) |
1μm(+/-2S) |
1μm(+/-2S) |